ELBIS ( Electron Beam and Image Simulator )
マルチスライス法 (multi slice method) と相互透過係数 (TCC : transmission cross coefficient )を用いた 、
TEM 像 / STEM 像 / 電子回折 シミュレーションソフトウェア
特徴 : ( 試供版をご用意してあります。ダウンロードページよりどなたでも入手いただけます。)
GPU を用いた高速計算 [1]
拡張されたTCC [2] を用いての、
収差補正TEM (Aberration corrected TEM) [3] の 残存収差を考慮した計算が可能
結晶、Cluster、 非晶質、バイオ試料の TEM/ STEM 像計算が可能
[1] https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0304399115300061
[2] https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0304399116300493
[3] https://academic.oup.com/jmicro/article/62/1/23/1989930?searchresult=1
動作環境:
Windows 7 ,8 ,10 ,11
RAM 4GB以上 / 16 GB 以上推奨
モニター 14インチ以上
NVIDIA GPU (compute capability 3.0 以上)
作成・販売: FH electron optics / email: sim_em_image@jcom.zaq.ne.jp
Copyright © 2015 FH electron optics All Rights Reserved.
ご質問、ご提案、その他、お気軽にお問合せください。
代表 : 細川史生 (理博)